固纬GUT-6000A数字IC测试仪|GUT-6000AIC测试仪的特点:
.Loop 测试 . 自动搜寻 IC 编号功能 . 开机自我侦测诊断功能 . 过载保护功能 . 可量测之 IC 种类超过 1800 种 . 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS . 4000 及 4500 系列 CMOS . 最大可测 Pin 数 : 28 Pin
固纬GUT-6000A数字IC测试仪|GUT-6000AIC测试仪的技术参数:
测试范围
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54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
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4000 及 4500 系列 CMOS
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55 及 75 系列 TTL
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量测种类
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约 1800 种
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试电压
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5V DC
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测试时间
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高测试速度,平均 0.8 秒可完成一个 IC
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使用电源
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交流 110V/220V +10%, 50/60Hz
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附件
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电源线 x 1, 操作手册 x 1
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尺寸及重量
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335(宽) x 105(高) x 300(长) mm 约 1.5 公斤
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