ETG15F2 涂层测厚仪
ETG15F2;因帕克ETG15F2 涂层测厚仪
ETG15F2;因帕克ETG15F2 涂层测厚仪
特 性
磁导法 (ISO 2178, ASTM D7091), 用于测量导磁基体上非导磁涂层的厚度。
快速单手操作,也可放手测量。
无需校准即可进行测量。
多种校准方式可消除材料或形状变化所带来的误差。
USB数据传输。
基本统计运算功能。
规 格
测量方式 |
磁导法 |
测量范围 |
0~1500µm (0 ~60 mil) |
分 辨 率 |
0 ~ 999µm: 0.1µm, ≥1000µm: 1µm |
精 度 |
0 ~ 100µm: ±1.5µm , 101 ~ 1500µm: ≤ ±1.5 % |
存 储 |
1500个读数 |
显 示 器 |
带背光点阵液晶 |
电 源 |
1.5V*3 (AAA碱式电池) |
打 印 机 |
无线微型打印机(选 配) |
外形尺寸 |
88 X 67 X 30 mm |
重 量 |
160克 |
认 证 |
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附 件
主机, 传感器, 基体, 校准片, 3 AAA电池, 数据线, 皮套,
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